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Journal of the Korean Chemical Society (JKCS)

ISSN 1017-2548(Print)
ISSN 2234-8530(Online)
Volume 27, Number 6
JKCSEZ 27(6)
December 20, 1983 

X-Ray Spectrometric Analysis of Ta2O5, Nb2O2in Tin Slags using Standard Addition and Dilution Method

표준물첨가 및 희석법을 이용한 주석 슬랙중 Ta2O5, Nb2O5및 SnO2의 X-선 분광분석
Young-Sang Kim, Dong-Hui Lee

김영상, 이동휘
분석시료에 일정량의 표준물을 첨가한 후 희석제로 묽히는 방법을 이용하여 주석슬랙중의 Ta2O5, Nb2O5 및 SnO2를 X-선 분광 분석법으로 정량하였다. 희석제로는 SiO2와 FeO3를 사용하였으며 첨가시료와 1:1의 비로 희석 시켰다. Ta2O5와 SnO2의 분석결과는 Fe2O3보다 SiO2로 희석시킨 것이 표준 검정곡선법에 의해 얻은 분석값과 더 잘 일치하고, Nb2O5는 이와 반대로 SiO2보다 Fe2O3로 희석시킨 것이 더 잘 일치함을 보여주었다.

Determination for Ta2O5, Nb2O5 and SnO2 in tin slags was investigated by X-ray spectrometric method. Standard addition-dilution method was attempted and showed a comparable accuracy with standard calibration curve method. Pure chemicals(Ta2O5, Nb2O5 and SnO2) were added to the samples and diluted with silica or ferric oxide. For the determination of Ta2O5 and SnO2, silica was more suitable than ferric oxide while the latter was more preferable than the former for Nb2O5.

424 - 428
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